LCD-TFT製程整合性良率分析

南華大學機構典藏系統 > 科技學院 > 資訊管理學系 > 博碩士論文 > Item 987654321/22878

jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://nhuir.nhu.edu.tw/handle/987654321/22878

题名:	LCD-TFT製程整合性良率分析
其它题名:	An Integrated Yield Analysis for LCD-TFT Manufacturing Process
作者:	盧延昇 Lu, Yen-sheng
貢獻者:	資訊管理學研究所謝昆霖 Kun-lin Hsieh
关键词:	逐步迴歸;良率模式;類神經網路(ANNs);液晶顯示器(LCDs) Stepwise regression;Artificial neural networks (ANNs);Liquid crystal displays (LCDs);Yield model
日期:	2006
上传时间:	2015-08-07 13:27:12 (UTC+8)
摘要:	製程改善能力是當前 TFT-LCD 製造商競爭力的決定性因素之一，但直到現今，還沒有任何適當的理論被提出用以改善 TFT-LCD 工業的良率問題，然而經驗證從良率模式所獲得的資訊（例如，domain knowledge 或parameter effect）對於 TFT-LCD 的製造商實能夠提供有用的建議和改善方案，也就是說，良率模式的建構與製程參數的影嚮性，對於 TFT-LCD 產業的良率分析而言，將會是一個必需被重視的課題。　　　在此篇論文中，我們提出了結合類神經網路與迴歸分析之技術以達成良率模式的建構，並在實例說明中，套用一臺灣臺南科學園區的TFT-LCD 製造商的實際生產資料，用以驗證我們所提出的模式。　　The ability to improve yield in manufacturing process is an important competitiveness determinant for TFT-LCD factories. Until now, no any suitable theories were proposed to address the yield problem in TFT-LCD industry. However, the information (e.g. the domain knowledge or the parameter effect) obtained from the yield model will provide useful recommendations and improvements to those manufacturers. That is, the model construction and parameter effect for yield analysis will be a necessary issue to be addressed.　　　In this study, we proposed a procedure incorporating the artificial neural networks (ANNs) and stepwise regression techniques to achieve the model construction and parameter effect. Besides, an illustrative case owing to TFT-LCD manufacturer at Tainan Science Park in Taiwan will be applied to verifying our proposed procedure.
显示于类别:	[資訊管理學系] 博碩士論文

文件中的档案:

档案	描述	大小	格式	浏览次数
095NHU05396001-001.pdf		398Kb	Adobe PDF	357	检视/开启
index.html		0Kb	HTML	511	检视/开启

在NHUIR中所有的数据项都受到原著作权保护.

TAIR相关文章

数据加载中.....